高溫(wen)試驗箱(xiang)的(de)溫(wen)度(du)變化(hua)情(qing)況說(shuo)明

　　高溫(wen)試驗箱(xiang)適(shi)合電子(zi)、塑膠(jiao)制品(pin)、電器(qi)、儀(yi)表(biao)、食(shi)品、車(che)輛、金(jin)屬(shu)、化(hua)學(xue)、建(jian)材、航(hang)天、醫(yi)療等(deng)制(zhi)品(pin)檢測(ce)質量(liang)之(zhi)用(yong)。高(gao)低(di)溫(wen)試驗箱(xiang)溫(wen)度(du)變化(hua)試驗的(de)目的在(zai)於(yu)確定(ding)溫(wen)度(du)變化(hua)或(huo)連(lian)續(xu)溫(wen)度(du)變化(hua)對(dui)試驗樣品(pin)的(de)影響，不適(shi)用於(yu)僅(jin)僅(jin)是(shi)考(kao)核(he)高(gao)溫(wen)和(he)低(di)溫(wen)的(de)影響作(zuo)用，對(dui)這(zhe)些(xie)作(zuo)用，要(yao)使(shi)用(yong)高溫(wen)或(huo)低(di)溫(wen)試驗，溫(wen)度(du)變化(hua)試驗的(de)作(zuo)用決(jue)定(ding)於(yu)：

　　溫(wen)度(du)條(tiao)件(jian)試驗的(de)高(gao)溫(wen)和(he)低(di)溫(wen)溫(wen)度(du)值(zhi)、試驗樣品(pin)保(bao)持在(zai)這(zhe)些(xie)溫(wen)度(du)條(tiao)件(jian)中的試驗時間、由(you)高(gao)到(dao)低(di)（或由(you)低(di)到(dao)高(gao)）溫(wen)度(du)間的變化(hua)速(su)率(lv)、條件(jian)試驗的(de)循(xun)環次(ci)數、試驗樣品(pin)輸(shu)入或輸出的(de)總(zong)熱量(liang)。

　　高溫(wen)試驗箱(xiang)現場的(de)溫(wen)度(du)變化(hua)情(qing)況：

　　在(zai)電子(zi)設備(bei)和(he)元件(jian)中，通(tong)常(chang)出現的溫(wen)度(du)變化(hua)是(shi)逐漸的(de)，設(she)備(bei)內(nei)部的(de)零(ling)件(jian)，在(zai)設(she)備(bei)沒(mei)有(you)工(gong)作(zuo)時，其所受(shou)的溫(wen)度(du)變化(hua)比(bi)那(na)些設(she)備(bei)外(wai)表(biao)面的零(ling)件慢些，溫(wen)度(du)迅(xun)速變化(hua)可能會(hui)出(chu)現的場(chang)合，當設(she)備(bei)從(cong)溫(wen)暖的室(shi)內環境中搬到(dao)寒(han)冷(leng)的室(shi)外(wai)環境或者(zhe)是相反情(qing)況的(de)時候，當(dang)設(she)備(bei)由(you)於(yu)受雨淋或浸(jin)泡在(zai)冷(leng)水裏以致(zhi)突(tu)然冷(leng)卻的時候，安(an)裝在(zai)飛機(ji)外(wai)部(bu)的(de)設備(bei)中，在(zai)某(mou)些(xie)運輸和(he)儲存條(tiao)件下，當設備(bei)啟(qi)動後(hou)，在(zai)其內部(bu)有(you)高(gao)的溫(wen)度(du)梯(ti)度(du)時，元件就會(hui)受(shou)到(dao)溫(wen)度(du)變化(hua)的(de)應(ying)力(li)。如在(zai)大(da)功率(lv)電阻附(fu)近(jin)，輻(fu)射(she)會(hui)使(shi)相鄰(lin)的元件(jian)表(biao)面溫(wen)度(du)上(shang)升(sheng)，而(er)其他部(bu)分還(hai)是(shi)冷(leng)的，人(ren)工(gong)冷(leng)卻的元(yuan)件，當冷(leng)卻系統(tong)接(jie)通(tong)時會(hui)受(shou)到(dao)溫(wen)度(du)的(de)迅(xun)速變化(hua)，元(yuan)件(jian)中溫(wen)度(du)的(de)迅(xun)速變化(hua)也會(hui)在(zai)制(zhi)造設備(bei)過程中產生，溫(wen)度(du)變化(hua)的(de)嚴酷(ku)等級(ji)主(zhu)要取決(jue)於(yu)溫(wen)度(du)變化(hua)的(de)次(ci)數和(he)輻度(du)及(ji)它們之(zhi)間的時間間隔(ge)，當轉換(huan)時間為(wei)（2-3）min時，試驗樣品(pin)所(suo)受之(zhi)熱應(ying)力(li)，小(xiao)件(jian)試驗樣品(pin)要(yao)比大(da)件試驗樣品(pin)所(suo)受的(de)熱應(ying)力(li)小(xiao)得(de)多，然(ran)而(er)試驗樣品(pin)所(suo)承(cheng)受(shou)的熱應(ying)力(li)是(shi)與其在(zai)幾分鐘內(nei)從(cong)壹個(ge)溫(wen)度(du)到(dao)另(ling)壹個溫(wen)度(du)的(de)大(da)氣中所受(shou)到(dao)的(de)應力(li)有(you)壹(yi)定(ding)關系(xi)，試驗的(de)升(sheng)溫(wen)和(he)降溫(wen)對(dui)元(yuan)件(jian)和(he)設備(bei)的(de)影響是(shi)有(you)差(cha)異的(de)，在(zai)元(yuan)件或設(she)備(bei)上(shang)出(chu)現凝露(lu)或結(jie)霜(shuang)會(hui)引(yin)起(qi)額(e)外(wai)的(de)應(ying)力(li)，在(zai)不希(xi)望有(you)這(zhe)些(xie)額外(wai)應(ying)力(li)的(de)地(di)方(fang)，必(bi)須(xu)適(shi)當(dang)地(di)控制濕(shi)度(du)，以減(jian)少其影響。