步(bu)入式老化(hua)室(shi)是(shi)壹種高效(xiao)的電子(zi)產(chan)品(pin)測試(shi)設備,可以模擬不(bu)同(tong)的使用(yong)環境和使用(yong)條件,測試(shi)電子(zi)產(chan)品(pin)的性能和可靠性。相比(bi)傳(chuan)統的老化(hua)室,步(bu)入式老化(hua)室(shi)具(ju)有(you)更高的測試(shi)精度和更好(hao)的可重復(fu)性,可以大(da)大(da)提高(gao)電子(zi)產(chan)品(pin)的性能和可靠性。
基本(ben)原理(li)是(shi)模擬不(bu)同(tong)的使用(yong)環境和使用(yong)條件,測試(shi)電子(zi)產(chan)品(pin)的性能和可靠性。通(tong)過模擬高(gao)溫(wen)、低溫(wen)、濕度、震動(dong)等不(bu)同(tong)的環境因素,測(ce)試電子(zi)產(chan)品(pin)的溫(wen)度穩定(ding)性、電氣(qi)性能、機械(xie)性能、耐(nai)久(jiu)性等方面的性能。同(tong)時(shi)還可以模擬用(yong)戶的使用(yong)習慣和操作(zuo)方(fang)式,測試(shi)電子(zi)產(chan)品(pin)的易用(yong)性和穩定(ding)性。

適(shi)用(yong)於各(ge)種類(lei)型的電子(zi)產(chan)品(pin),例(li)如(ru)計算(suan)機(ji)、通(tong)訊設(she)備(bei)、消(xiao)費(fei)電子(zi)產(chan)品(pin)等。在(zai)計算(suan)機(ji)領(ling)域(yu)可以用(yong)於測試(shi)CPU、內存(cun)、硬(ying)盤(pan)等部(bu)件的性能和可靠性;在(zai)通(tong)訊設(she)備(bei)領(ling)域(yu)可以用(yong)於測試(shi)無線(xian)通(tong)信設(she)備(bei)、有(you)線(xian)通(tong)信設(she)備(bei)、網(wang)絡設備(bei)等部(bu)件的性能和可靠性;在(zai)消費(fei)電子(zi)產(chan)品(pin)領(ling)域(yu)可以用(yong)於測試(shi)智能手機(ji)、平(ping)板(ban)電腦(nao)、電視(shi)機等部(bu)件的性能和可靠性。
步(bu)入式老化(hua)室(shi)的作(zuo)用(yong):
用(yong)於對電子(zi)產(chan)品(pin)進(jin)行測試(shi),測試(shi)的項目有電源(yuan)適(shi)配(pei)器的各(ge)種指(zhi)標、產(chan)品(pin)整機(ji)的主要(yao)性能指(zhi)標及待機(ji)時(shi)間、工(gong)作(zuo)時(shi)間、負載(zai)時(shi)的電流(liu)電壓(ya)變(bian)化(hua)、工(gong)作(zuo)溫(wen)度下的絕(jue)緣電阻(zu)值、抗電強度、安全性等。
用(yong)於對通(tong)信產(chan)品(pin)進(jin)行測試(shi),測試(shi)的項目有工(gong)作(zuo)溫(wen)度下的絕(jue)緣電阻(zu)值、抗電強度、安全性等。
用(yong)於對汽(qi)車電子(zi)產(chan)品(pin)進(jin)行測試(shi),測試(shi)的項目有整機絕(jue)緣電阻(zu)值、抗電強度、安全性等。
用(yong)於對LED產(chan)品(pin)進(jin)行測試(shi),測試(shi)的項目有工(gong)作(zuo)電壓(ya)、工(gong)作(zuo)電流(liu)、亮(liang)度、色度、正向(xiang)電流(liu)負向電流(liu)、結溫(wen)、光通(tong)量(liang)、工(gong)作(zuo)時(shi)間、開(kai)關狀(zhuang)態等。
用(yong)於對安防(fang)產(chan)品(pin)進(jin)行測試(shi),測試(shi)的項目有處理(li)不(bu)同(tong)溫(wen)度濃(nong)度酸堿的時(shi)間、鋼(gang)板加速老(lao)化(hua)、外殼抗腐蝕能力等。
用(yong)於對電源(yuan)產(chan)品(pin)進(jin)行測試(shi),測試(shi)的項目有輸出(chu)電壓(ya)、輸出(chu)電流(liu)、紋波電壓(ya)、最大輸出(chu)功(gong)率、負載(zai)下的電流(liu)電壓(ya)變(bian)化(hua)、工(gong)作(zuo)溫(wen)度下的絕(jue)緣電阻(zu)值、抗電強度、安全性等。