創測-恒溫(wen)恒濕箱系列

創測-恒溫(wen)恒濕箱系列用(yong)於檢(jian)測材料在(zai)各(ge)種(zhong)環境下(xia)性能(neng)的(de)設(she)備(bei)及(ji)試(shi)驗(yan)各(ge)種(zhong)材(cai)料耐(nai)熱(re)、耐(nai)寒、耐(nai)幹(gan)、耐濕性能(neng)。適(shi)合(he)電子(zi)、電器、手機(ji)、通(tong)訊(xun)、儀(yi)表(biao)、車(che)輛(liang)、塑(su)膠(jiao)制(zhi)品(pin)、金(jin)屬(shu)、食(shi)品(pin)、化(hua)學(xue)、建材、醫(yi)療、航天(tian)等制(zhi)品(pin)檢(jian)測質量。

創測-恒溫(wen)恒濕箱系列適(shi)用(yong)於工業及(ji)電子(zi)產(chan)品(pin)的(de)性能(neng)可靠(kao)性試(shi)驗(yan)，本(ben)試(shi)驗(yan)具有(you)較大(da)的(de)溫(wen)度(du)控(kong)制(zhi)範(fan)圍，性能(neng)指標(biao)均達到GB10592-93《高(gao)低溫(wen)試(shi)驗(yan)箱(xiang)技(ji)術(shu)條(tiao)件(jian)》，GB10586-93《濕熱(re)試(shi)驗(yan)箱(xiang)技(ji)術(shu)條(tiao)件(jian)》，適(shi)用(yong)於GB2423-93《電工(gong)電子(zi)產(chan)品(pin)基(ji)本(ben)環境試(shi)驗(yan)規(gui)程(cheng)》中的(de)《試(shi)驗(yan)低溫(wen)A:試(shi)驗(yan)方法;試(shi)驗(yan)高(gao)溫(wen)B:試(shi)驗(yan)方法》及(ji)恒定(ding)濕熱(re)試(shi)驗(yan)，可(ke)有(you)效(xiao)的(de)對產(chan)品(pin)進(jin)行高(gao)低溫(wen)及(ji)濕熱(re)(恒定(ding))試(shi)驗(yan)。