創(chuang)測-高低(di)溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)系(xi)列

創測-高低(di)溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)系(xi)列

（可定(ding)制化設(she)備(bei)）

創測-高低(di)溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)系(xi)列

壹(yi)、產(chan)品(pin)簡介(jie)：

適用於(yu)工業(ye)產(chan)品(pin)高溫(wen)、低(di)溫(wen)的可(ke)靠性試(shi)驗。對電子(zi)電(dian)工、汽車(che)摩托、航空航天、船舶(bo)兵器(qi)、高等(deng)院(yuan)校(xiao)、科研單位等(deng)相(xiang)關產(chan)品(pin)的零(ling)部件(jian)及(ji)材(cai)料在高溫(wen)、低(di)溫(wen)(交變)循環變(bian)化的情況(kuang)下，檢(jian)驗其各項(xiang)性能(neng)指(zhi)標。

產(chan)品(pin)具(ju)有較寬的溫(wen)度控(kong)制(zhi)範圍(wei)，其(qi)性能(neng)指(zhi)標均(jun)達(da)到國家標準GB10592-89高低(di)溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)技(ji)術(shu)條(tiao)件(jian)，適用於(yu)按(an)GB2423.1、GB2423.2《電(dian)工電(dian)子(zi)產(chan)品(pin)環(huan)境試(shi)驗 試(shi)驗A:低(di)溫(wen)試(shi)驗方(fang)法，試(shi)驗B:高溫(wen)試(shi)驗方(fang)法》對產(chan)品(pin)進行低(di)溫(wen)、高溫(wen)試(shi)驗及(ji)恒(heng)定(ding)溫(wen)熱(re)試(shi)驗。產(chan)品(pin)符(fu)合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標準。

      高低(di)溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)根(gen)據(ju)試(shi)驗方(fang)法與(yu)行業(ye)標準可(ke)分(fen)為(wei)交變試(shi)驗、恒溫(wen)試(shi)驗，兩種(zhong)試(shi)驗方(fang)法都是在(zai)高低(di)溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)的基(ji)礎(chu)上(shang)進行升級(ji)拓展(zhan)，交變試(shi)驗箱(xiang)是指(zhi)可以(yi)壹(yi)次(ci)性將需要(yao)做(zuo)的高溫(wen)、低(di)溫(wen)以(yi)及(ji)所(suo)需做(zuo)的溫(wen)度的時間(jian)設(she)定(ding)在儀(yi)表(biao)參(can)數(shu)內，試(shi)驗箱(xiang)會(hui)按(an)照(zhao)設(she)定(ding)走程(cheng)序，高低(di)溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)就(jiu)是在(zai)做(zuo)壹(yi)個固定(ding)的溫(wen)度，使(shi)試(shi)驗效果更(geng)接近(jin)自然氣候，模(mo)擬(ni)出(chu)更(geng)惡(e)劣(lie)的自然氣候，從而(er)使被測樣品的可(ke)靠性更(geng)高。