高(gao)低(di)溫(wen)試驗(yan)箱(xiang)適(shi)用於(yu)對產品（整機）、零(ling)部件、材料進行(xing)高(gao)溫(wen)、低溫(wen)、高低(di)溫(wen)循環(huan)及(ji) 溫(wen)度篩(shai)選試驗(yan)。本試驗(yan)箱(xiang)可(ke)用(yong)於(yu)散(san)熱試驗(yan)樣品和非散(san)熱試驗(yan)樣品的(de)試驗(yan)。對於散(san)熱試驗(yan)樣品的(de)試驗(yan)，其(qi)散(san)熱功(gong)率(lv)不(bu)能(neng)超過(guo)試驗(yan)箱(xiang)制(zhi)冷(leng)量，因(yin)制冷量為動態(tai)值(zhi)，其(qi)隨(sui)溫(wen)度點(dian)變(bian)化而(er)有所變(bian)化。

創測-高低溫(wen)試驗(yan)箱(xiang)系(xi)列(lie)適(shi)用於(yu)對產品（整機）、零(ling)部件、材料進行(xing)高(gao)溫(wen)、低溫(wen)、高低(di)溫(wen)循環(huan)及(ji) 溫(wen)度篩(shai)選試驗(yan)。本試驗(yan)箱(xiang)可(ke)用(yong)於(yu)散(san)熱試驗(yan)樣品和非散(san)熱試驗(yan)樣品的(de)試驗(yan)。對於散(san)熱試驗(yan)樣品的(de)試驗(yan)，其(qi)散(san)熱功(gong)率(lv)不(bu)能(neng)超過(guo)試驗(yan)箱(xiang)制(zhi)冷(leng)量，因(yin)制冷量為動態(tai)值(zhi)，其(qi)隨(sui)溫(wen)度點(dian)變(bian)化而(er)有所變(bian)化。

創測-高低溫(wen)試驗(yan)箱(xiang)系(xi)列(lie)適(shi)用於(yu)對產品（整機）、零(ling)部件、材料進行(xing)高(gao)溫(wen)、低溫(wen)、高低(di)溫(wen)循環(huan)及(ji) 溫(wen)度篩(shai)選試驗(yan)。本試驗(yan)箱(xiang)可(ke)用(yong)於(yu)散(san)熱試驗(yan)樣品和非散(san)熱試驗(yan)樣品的(de)試驗(yan)。對於散(san)熱試驗(yan)樣品的(de)試驗(yan)，其(qi)散(san)熱功(gong)率(lv)不(bu)能(neng)超過(guo)試驗(yan)箱(xiang)制(zhi)冷(leng)量，因(yin)制冷量為動態(tai)值(zhi)，其(qi)隨(sui)溫(wen)度點(dian)變(bian)化而(er)有所變(bian)化。

創測-高低溫(wen)試驗(yan)箱(xiang)系(xi)列(lie)適(shi)用於(yu)對產品（整機）、零(ling)部件、材料進行(xing)高(gao)溫(wen)、低溫(wen)、高低(di)溫(wen)循環(huan)及(ji) 溫(wen)度篩(shai)選試驗(yan)。本試驗(yan)箱(xiang)可(ke)用(yong)於(yu)散(san)熱試驗(yan)樣品和非散(san)熱試驗(yan)樣品的(de)試驗(yan)。對於散(san)熱試驗(yan)樣品的(de)試驗(yan)，其(qi)散(san)熱功(gong)率(lv)不(bu)能(neng)超過(guo)試驗(yan)箱(xiang)制(zhi)冷(leng)量，因(yin)制冷量為動態(tai)值(zhi)，其(qi)隨(sui)溫(wen)度點(dian)變(bian)化而(er)有所變(bian)化。

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