創(chuang)測-高(gao)低溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)系列(lie)

創(chuang)測-高(gao)低溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)系列(lie)

（可定(ding)制(zhi)化設(she)備）

創(chuang)測-高(gao)低溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)系列(lie)

壹(yi)、產品簡(jian)介：

適用於(yu)工業產品高(gao)溫(wen)、低溫(wen)的(de)可靠(kao)性試(shi)驗。對(dui)電子電工、汽(qi)車(che)摩(mo)托、航空(kong)航天(tian)、船(chuan)舶兵器、高(gao)等(deng)院校(xiao)、科研單(dan)位(wei)等(deng)相(xiang)關(guan)產品的(de)零部(bu)件(jian)及材(cai)料(liao)在高(gao)溫(wen)、低溫(wen)(交(jiao)變(bian))循環(huan)變(bian)化的情(qing)況(kuang)下，檢(jian)驗其(qi)各項性能(neng)指(zhi)標(biao)。

產品具(ju)有(you)較(jiao)寬(kuan)的溫(wen)度(du)控(kong)制(zhi)範圍，其(qi)性能(neng)指(zhi)標(biao)均達到(dao)國家標(biao)準GB10592-89高(gao)低溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)技術(shu)條(tiao)件(jian)，適(shi)用於(yu)按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產品環(huan)境(jing)試(shi)驗 試(shi)驗A:低溫(wen)試(shi)驗方(fang)法，試驗B:高(gao)溫(wen)試(shi)驗方(fang)法》對(dui)產品進行低溫(wen)、高(gao)溫(wen)試(shi)驗及恒定(ding)溫(wen)熱試驗。產品符(fu)合(he)GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標(biao)準。

      高(gao)低溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)根據試(shi)驗方(fang)法與行業標(biao)準可分(fen)為(wei)交(jiao)變(bian)試(shi)驗、恒(heng)溫(wen)試(shi)驗，兩(liang)種(zhong)試驗方(fang)法都是(shi)在高(gao)低溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)的基礎(chu)上進行升(sheng)級(ji)拓展，交(jiao)變(bian)試(shi)驗箱(xiang)是(shi)指(zhi)可以(yi)壹(yi)次(ci)性將(jiang)需要(yao)做(zuo)的(de)高(gao)溫(wen)、低溫(wen)以(yi)及所需做(zuo)的(de)溫(wen)度(du)的(de)時間(jian)設(she)定(ding)在儀(yi)表參數內(nei)，試驗箱(xiang)會(hui)按照設(she)定(ding)走(zou)程(cheng)序(xu)，高(gao)低溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)就是(shi)在做(zuo)壹(yi)個(ge)固(gu)定的(de)溫(wen)度(du)，使試驗效(xiao)果(guo)更(geng)接近(jin)自然氣(qi)候，模(mo)擬(ni)出(chu)更(geng)惡劣的自然氣(qi)候，從(cong)而(er)使被測樣(yang)品(pin)的(de)可靠(kao)性更(geng)高(gao)。