低溫保(bao)存箱(xiang)產(chan)品滿足 ICH2003 Q1A（R2）、CP2010 執(zhi)行標準(zhun)GB/T10586-2006:低溫試(shi)驗箱(xiang)技術條(tiao)件。微電(dian)腦(nao)控(kong)制，溫(wen)度(du)數(shu)字(zi)顯示(shi)，箱(xiang)內(nei)溫(wen)度(du) -20℃~-40℃可(ke)調，制(zhi)冷(leng)循(xun)環(huan)均采(cai)用逆卡(ka)若(ruo)循(xun)環(huan)。

創(chuang)測(ce)-低溫保(bao)存箱(xiang)系(xi)列主要用於制藥(yao)行業或(huo)者工業其他產(chan)品的(de)在低溫下(xia)長(chang)期(qi)存(cun)儲，能根(gen)據(ju)用戶的(de)需(xu)要設定相應的(de)低溫保(bao)存溫度(du)。適(shi)用於科(ke)研(yan)機構(gou)、特(te)殊(shu)材(cai)料的(de)超低溫實(shi)驗、電(dian)子行業、化(hua)工行業領(ling)域(yu)、高(gao)校(xiao)實(shi)驗。

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