創測-高低溫試(shi)驗箱(xiang)系列

創測-高低溫試(shi)驗箱(xiang)系列

（可(ke)定制(zhi)化(hua)設(she)備）

創測-高低溫試(shi)驗箱(xiang)系列

壹(yi)、產品簡介：

適(shi)用於(yu)工業產品高溫、低溫(wen)的可(ke)靠(kao)性(xing)試驗。對電子電工、汽(qi)車摩(mo)托(tuo)、航(hang)空航(hang)天(tian)、船舶(bo)兵(bing)器、高等院(yuan)校(xiao)、科研(yan)單(dan)位(wei)等相(xiang)關(guan)產(chan)品的零部件(jian)及(ji)材料在高溫、低溫(wen)(交變(bian))循(xun)環(huan)變化(hua)的情況下(xia)，檢(jian)驗(yan)其(qi)各(ge)項性(xing)能(neng)指(zhi)標。

產品具(ju)有(you)較(jiao)寬的溫度(du)控制範圍(wei)，其性(xing)能(neng)指(zhi)標均達到(dao)國(guo)家標(biao)準GB10592-89高低溫試(shi)驗箱(xiang)技術(shu)條(tiao)件，適(shi)用於(yu)按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產品環(huan)境試(shi)驗(yan) 試(shi)驗A:低溫試驗方(fang)法，試驗B:高溫試驗(yan)方法(fa)》對產品進行低溫(wen)、高溫試驗(yan)及恒(heng)定溫熱試驗。產品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標準(zhun)。

      高低溫試(shi)驗箱(xiang)根據試驗方(fang)法(fa)與(yu)行業標準(zhun)可(ke)分為交變(bian)試(shi)驗、恒(heng)溫試驗，兩種試驗(yan)方法都是在高低溫試(shi)驗箱(xiang)的基(ji)礎上(shang)進行升級(ji)拓(tuo)展，交變(bian)試(shi)驗箱是指可(ke)以(yi)壹(yi)次性將需(xu)要做的高溫、低溫(wen)以(yi)及所(suo)需(xu)做的溫度(du)的時(shi)間設(she)定在儀表(biao)參(can)數(shu)內(nei)，試(shi)驗箱會(hui)按照設(she)定走程(cheng)序，高低溫試(shi)驗箱(xiang)就(jiu)是在(zai)做壹(yi)個(ge)固定(ding)的溫度(du)，使(shi)試驗效果更接近(jin)自(zi)然氣(qi)候，模(mo)擬出更惡劣(lie)的自(zi)然氣(qi)候，從而(er)使被測(ce)樣(yang)品的可(ke)靠(kao)性(xing)更高。