創測-高(gao)低溫(wen)試驗箱系(xi)列(lie)

創測-高(gao)低溫(wen)試驗箱系(xi)列(lie)

（可(ke)定(ding)制(zhi)化設備）

創測-高(gao)低溫(wen)試驗箱系(xi)列(lie)

壹(yi)、產品(pin)簡介：

適用(yong)於工業產(chan)品(pin)高溫(wen)、低(di)溫(wen)的(de)可靠(kao)性試驗。對(dui)電(dian)子(zi)電(dian)工、汽車(che)摩(mo)托、航(hang)空航(hang)天、船(chuan)舶兵器、高(gao)等(deng)院校(xiao)、科(ke)研單位等相(xiang)關(guan)產(chan)品(pin)的零(ling)部(bu)件(jian)及(ji)材(cai)料在(zai)高溫(wen)、低(di)溫(wen)(交(jiao)變(bian))循(xun)環(huan)變(bian)化的情況下，檢驗(yan)其各項(xiang)性能指(zhi)標。

產品(pin)具有(you)較(jiao)寬(kuan)的(de)溫(wen)度(du)控(kong)制(zhi)範圍(wei)，其性能指(zhi)標均(jun)達到(dao)國(guo)家(jia)標準GB10592-89高低(di)溫(wen)試驗箱技(ji)術條(tiao)件，適(shi)用(yong)於(yu)按GB2423.1、GB2423.2《電工電子(zi)產(chan)品(pin)環(huan)境試驗 試驗A:低(di)溫(wen)試驗方(fang)法，試驗B:高(gao)溫(wen)試驗方(fang)法》對產品(pin)進(jin)行(xing)低(di)溫(wen)、高(gao)溫(wen)試驗及(ji)恒(heng)定溫(wen)熱(re)試驗。產(chan)品(pin)符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標準。

      高低(di)溫(wen)試驗箱根(gen)據試驗方(fang)法與行(xing)業(ye)標準可分(fen)為(wei)交(jiao)變(bian)試驗、恒(heng)溫(wen)試驗，兩(liang)種(zhong)試驗方(fang)法都(dou)是在(zai)高低溫(wen)試驗箱的基(ji)礎(chu)上進(jin)行(xing)升(sheng)級拓(tuo)展，交(jiao)變(bian)試驗箱是指(zhi)可(ke)以壹(yi)次(ci)性將需(xu)要(yao)做的高溫(wen)、低(di)溫(wen)以(yi)及所(suo)需(xu)做(zuo)的溫(wen)度(du)的時(shi)間設(she)定在(zai)儀表參(can)數內，試驗箱會(hui)按(an)照設(she)定(ding)走程(cheng)序(xu)，高(gao)低溫(wen)試驗箱就是在(zai)做壹(yi)個固定的溫(wen)度(du)，使試驗效(xiao)果(guo)更接(jie)近自然氣候，模(mo)擬出(chu)更惡劣的自然氣候，從而(er)使被測樣(yang)品(pin)的可(ke)靠(kao)性更高(gao)。