創(chuang)測(ce)-高(gao)低溫(wen)試驗箱(xiang)系(xi)列

創(chuang)測(ce)-高(gao)低溫(wen)試驗箱(xiang)系(xi)列

（可定(ding)制化(hua)設(she)備）

創(chuang)測(ce)-高(gao)低溫(wen)試驗箱(xiang)系(xi)列

壹(yi)、產品(pin)簡(jian)介(jie)：

適用於工(gong)業產品(pin)高(gao)溫(wen)、低溫(wen)的(de)可靠性(xing)試驗。對電子電工(gong)、汽車(che)摩(mo)托(tuo)、航空航天、船(chuan)舶(bo)兵器、高(gao)等院(yuan)校(xiao)、科研單(dan)位等相關產品(pin)的(de)零部件(jian)及材料在(zai)高(gao)溫(wen)、低溫(wen)(交變)循(xun)環(huan)變化(hua)的情況(kuang)下，檢驗其(qi)各項性能(neng)指標(biao)。

產品(pin)具有(you)較寬(kuan)的溫(wen)度(du)控制範圍(wei)，其(qi)性能(neng)指標(biao)均(jun)達到(dao)國(guo)家(jia)標(biao)準GB10592-89高(gao)低溫(wen)試驗箱(xiang)技(ji)術條(tiao)件(jian)，適(shi)用於(yu)按GB2423.1、GB2423.2《電工(gong)電子產品(pin)環(huan)境(jing)試驗 試驗A:低溫(wen)試驗方法(fa)，試驗B:高(gao)溫(wen)試驗方法(fa)》對產品(pin)進(jin)行(xing)低溫(wen)、高(gao)溫(wen)試驗及恒定(ding)溫(wen)熱(re)試驗。產品(pin)符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標(biao)準。

      高(gao)低溫(wen)試驗箱(xiang)根(gen)據試驗方法(fa)與(yu)行(xing)業標(biao)準可(ke)分為交變試驗、恒(heng)溫(wen)試驗，兩種試驗方法(fa)都(dou)是在(zai)高(gao)低溫(wen)試驗箱(xiang)的(de)基礎上(shang)進(jin)行(xing)升(sheng)級拓(tuo)展，交變試驗箱(xiang)是指可(ke)以(yi)壹(yi)次(ci)性將需要做的(de)高(gao)溫(wen)、低溫(wen)以(yi)及所需做的(de)溫(wen)度(du)的時(shi)間(jian)設(she)定(ding)在(zai)儀(yi)表參(can)數(shu)內(nei)，試驗箱(xiang)會(hui)按照設(she)定(ding)走程(cheng)序，高(gao)低溫(wen)試驗箱(xiang)就(jiu)是在(zai)做壹(yi)個(ge)固(gu)定(ding)的溫(wen)度(du)，使(shi)試驗效(xiao)果更(geng)接近自然氣候(hou)，模(mo)擬出更惡(e)劣(lie)的(de)自然氣候(hou)，從(cong)而使(shi)被(bei)測(ce)樣品(pin)的(de)可(ke)靠性(xing)更(geng)高(gao)。