創測-高(gao)低(di)溫(wen)試(shi)驗(yan)箱(xiang)系列

創(chuang)測-高(gao)低(di)溫(wen)試(shi)驗(yan)箱(xiang)系列

（可(ke)定(ding)制化(hua)設備）

創測-高(gao)低(di)溫(wen)試(shi)驗(yan)箱(xiang)系列

壹(yi)、產品簡介(jie)：

適(shi)用(yong)於(yu)工業(ye)產品高溫(wen)、低(di)溫(wen)的(de)可(ke)靠(kao)性試(shi)驗(yan)。對電(dian)子(zi)電(dian)工、汽(qi)車(che)摩(mo)托(tuo)、航空(kong)航天、船(chuan)舶(bo)兵(bing)器(qi)、高等院(yuan)校(xiao)、科(ke)研單位等相(xiang)關產品的零(ling)部(bu)件及(ji)材料(liao)在高(gao)溫(wen)、低(di)溫(wen)(交(jiao)變)循(xun)環變化(hua)的情況(kuang)下(xia)，檢(jian)驗(yan)其(qi)各項(xiang)性能(neng)指(zhi)標(biao)。

產品具有(you)較寬的(de)溫(wen)度(du)控(kong)制範(fan)圍，其(qi)性能(neng)指(zhi)標(biao)均(jun)達(da)到國(guo)家(jia)標(biao)準(zhun)GB10592-89高低(di)溫(wen)試(shi)驗(yan)箱(xiang)技術條件，適(shi)用(yong)於(yu)按(an)GB2423.1、GB2423.2《電(dian)工電(dian)子(zi)產品環境試(shi)驗(yan) 試(shi)驗(yan)A:低(di)溫(wen)試(shi)驗(yan)方法，試(shi)驗(yan)B:高溫(wen)試(shi)驗(yan)方法》對產品進(jin)行低(di)溫(wen)、高(gao)溫(wen)試(shi)驗(yan)及恒定(ding)溫(wen)熱試(shi)驗(yan)。產品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標(biao)準(zhun)。

      高低(di)溫(wen)試(shi)驗(yan)箱(xiang)根據(ju)試(shi)驗(yan)方法與(yu)行(xing)業(ye)標(biao)準(zhun)可分為交變試(shi)驗(yan)、恒溫(wen)試(shi)驗(yan)，兩種(zhong)試(shi)驗(yan)方法都是在高(gao)低(di)溫(wen)試(shi)驗(yan)箱(xiang)的基礎(chu)上(shang)進(jin)行升級拓展，交(jiao)變試(shi)驗(yan)箱(xiang)是指(zhi)可以(yi)壹次(ci)性將需要做的(de)高溫(wen)、低(di)溫(wen)以(yi)及(ji)所(suo)需做的(de)溫(wen)度(du)的(de)時(shi)間設定(ding)在(zai)儀表參數(shu)內，試(shi)驗(yan)箱(xiang)會按照設定(ding)走程序，高低(di)溫(wen)試(shi)驗(yan)箱(xiang)就是在做壹(yi)個固(gu)定(ding)的(de)溫(wen)度(du)，使(shi)試(shi)驗(yan)效果(guo)更(geng)接近(jin)自(zi)然(ran)氣候，模(mo)擬出更(geng)惡劣的(de)自(zi)然氣(qi)候，從(cong)而(er)使(shi)被(bei)測樣(yang)品(pin)的可靠(kao)性更(geng)高。