創測(ce)-高(gao)低溫(wen)試驗(yan)箱系(xi)列(lie)

創測(ce)-高(gao)低溫(wen)試驗(yan)箱系(xi)列(lie)

（可(ke)定(ding)制化(hua)設(she)備）

創測(ce)-高(gao)低溫(wen)試驗(yan)箱系(xi)列(lie)

壹、產(chan)品(pin)簡介(jie)：

適用於工(gong)業(ye)產品(pin)高(gao)溫(wen)、低溫(wen)的(de)可(ke)靠(kao)性試(shi)驗(yan)。對電子(zi)電(dian)工(gong)、汽車(che)摩托(tuo)、航空(kong)航天(tian)、船舶(bo)兵(bing)器、高(gao)等院校(xiao)、科(ke)研單(dan)位等相關(guan)產(chan)品(pin)的(de)零部件(jian)及材料在(zai)高(gao)溫(wen)、低溫(wen)(交變)循(xun)環(huan)變(bian)化(hua)的(de)情(qing)況下，檢(jian)驗(yan)其(qi)各(ge)項(xiang)性能(neng)指標。

產(chan)品(pin)具(ju)有較(jiao)寬(kuan)的(de)溫(wen)度(du)控(kong)制範(fan)圍(wei)，其(qi)性能(neng)指標均(jun)達(da)到(dao)國(guo)家(jia)標準(zhun)GB10592-89高(gao)低溫(wen)試驗(yan)箱技(ji)術(shu)條(tiao)件(jian)，適(shi)用於按GB2423.1、GB2423.2《電工(gong)電子(zi)產品(pin)環(huan)境試(shi)驗(yan) 試驗(yan)A:低溫(wen)試驗(yan)方(fang)法，試驗(yan)B:高(gao)溫(wen)試驗(yan)方(fang)法》對產品(pin)進行(xing)低溫(wen)、高(gao)溫(wen)試驗(yan)及恒(heng)定(ding)溫(wen)熱(re)試驗(yan)。產品(pin)符(fu)合(he)GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標(biao)準(zhun)。

      高(gao)低溫(wen)試驗(yan)箱根(gen)據(ju)試驗(yan)方(fang)法與(yu)行(xing)業(ye)標準(zhun)可(ke)分為(wei)交變試驗(yan)、恒溫(wen)試驗(yan)，兩種(zhong)試(shi)驗(yan)方(fang)法都是在(zai)高(gao)低溫(wen)試驗(yan)箱的(de)基礎上進行(xing)升(sheng)級拓展，交變試驗(yan)箱是(shi)指可(ke)以(yi)壹次(ci)性將(jiang)需(xu)要做(zuo)的(de)高(gao)溫(wen)、低溫(wen)以(yi)及所(suo)需做的(de)溫(wen)度(du)的(de)時(shi)間設(she)定(ding)在(zai)儀(yi)表參數(shu)內(nei)，試(shi)驗(yan)箱會(hui)按照(zhao)設(she)定(ding)走程(cheng)序，高(gao)低溫(wen)試驗(yan)箱就(jiu)是(shi)在(zai)做(zuo)壹個固(gu)定(ding)的(de)溫(wen)度(du)，使(shi)試(shi)驗(yan)效果(guo)更接近自然(ran)氣(qi)候，模(mo)擬(ni)出更惡(e)劣的(de)自(zi)然(ran)氣(qi)候，從而使被測樣品(pin)的(de)可(ke)靠(kao)性更(geng)高(gao)。