創(chuang)測(ce)-高(gao)低溫試驗箱(xiang)系列(lie)

創(chuang)測(ce)-高(gao)低溫試驗箱(xiang)系列(lie)

（可定制化(hua)設備(bei)）

創(chuang)測(ce)-高(gao)低溫試驗箱(xiang)系列(lie)

壹、產(chan)品簡介(jie)：

適用(yong)於(yu)工(gong)業(ye)產(chan)品高(gao)溫(wen)、低溫的可靠性(xing)試(shi)驗(yan)。對電子電工(gong)、汽(qi)車(che)摩(mo)托、航(hang)空航(hang)天、船舶兵器(qi)、高(gao)等院(yuan)校、科研(yan)單(dan)位等相(xiang)關(guan)產(chan)品的零部(bu)件及材(cai)料在高(gao)溫(wen)、低溫(交(jiao)變(bian))循(xun)環變(bian)化(hua)的情(qing)況(kuang)下，檢(jian)驗其(qi)各(ge)項(xiang)性(xing)能(neng)指(zhi)標。

產(chan)品具(ju)有較(jiao)寬(kuan)的溫(wen)度(du)控制範(fan)圍，其(qi)性(xing)能(neng)指(zhi)標均(jun)達到(dao)國(guo)家標(biao)準(zhun)GB10592-89高(gao)低溫試驗箱(xiang)技術(shu)條件(jian)，適用(yong)於(yu)按GB2423.1、GB2423.2《電工(gong)電子產(chan)品環境試驗(yan) 試(shi)驗(yan)A:低溫試驗方法(fa)，試驗(yan)B:高(gao)溫(wen)試驗方法(fa)》對產(chan)品進(jin)行低溫、高(gao)溫(wen)試驗及恒定溫(wen)熱試驗。產(chan)品符(fu)合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標(biao)準(zhun)。

      高(gao)低溫試驗箱(xiang)根據試(shi)驗(yan)方法(fa)與(yu)行(xing)業(ye)標準(zhun)可分(fen)為(wei)交(jiao)變(bian)試(shi)驗(yan)、恒溫試(shi)驗，兩(liang)種試(shi)驗(yan)方法(fa)都是(shi)在高(gao)低溫試驗箱(xiang)的基(ji)礎上進(jin)行升級拓(tuo)展(zhan)，交(jiao)變(bian)試(shi)驗(yan)箱(xiang)是(shi)指(zhi)可以壹次(ci)性(xing)將(jiang)需(xu)要(yao)做(zuo)的高(gao)溫(wen)、低溫以及所(suo)需(xu)做的(de)溫度(du)的(de)時(shi)間(jian)設定(ding)在(zai)儀表(biao)參數內，試驗箱(xiang)會(hui)按照設定(ding)走程序，高(gao)低溫試驗箱(xiang)就是(shi)在做(zuo)壹個(ge)固定的(de)溫(wen)度，使試(shi)驗(yan)效(xiao)果更(geng)接(jie)近自然氣(qi)候，模擬(ni)出更(geng)惡(e)劣(lie)的自然氣(qi)候，從(cong)而使(shi)被(bei)測(ce)樣品的可靠性(xing)更(geng)高(gao)。