創測-高低(di)溫(wen)試驗箱系列適(shi)用(yong)於(yu)對產品(pin)（整機）、零部件、材(cai)料(liao)進(jin)行高溫(wen)、低(di)溫、高低(di)溫(wen)循環及(ji) 溫度(du)篩選(xuan)試驗。本試驗箱可用於(yu)散熱(re)試驗樣(yang)品(pin)和非散熱(re)試驗樣(yang)品(pin)的試驗。對(dui)於(yu)散熱(re)試驗樣(yang)品(pin)的試驗，其(qi)散熱(re)功率不能超過(guo)試驗箱制(zhi)冷量(liang)，因(yin)制(zhi)冷量(liang)為動(dong)態值(zhi)，其(qi)隨溫(wen)度(du)點(dian)變(bian)化而有(you)所變(bian)化。

創測-高低(di)溫(wen)試驗箱系列適(shi)用(yong)於(yu)對產品(pin)（整機）、零部件、材(cai)料(liao)進(jin)行高溫(wen)、低(di)溫、高低(di)溫(wen)循環及(ji) 溫度(du)篩選(xuan)試驗。本試驗箱可用於(yu)散熱(re)試驗樣(yang)品(pin)和非散熱(re)試驗樣(yang)品(pin)的試驗。對(dui)於(yu)散熱(re)試驗樣(yang)品(pin)的試驗，其(qi)散熱(re)功率不能超過(guo)試驗箱制(zhi)冷量(liang)，因(yin)制(zhi)冷量(liang)為動(dong)態值(zhi)，其(qi)隨溫(wen)度(du)點(dian)變(bian)化而有(you)所變(bian)化。

創測-高低(di)溫(wen)試驗箱系列適(shi)用(yong)於(yu)對產品(pin)（整機）、零部件、材(cai)料(liao)進(jin)行高溫(wen)、低(di)溫、高低(di)溫(wen)循環及(ji) 溫度(du)篩選(xuan)試驗。本試驗箱可用於(yu)散熱(re)試驗樣(yang)品(pin)和非散熱(re)試驗樣(yang)品(pin)的試驗。對(dui)於(yu)散熱(re)試驗樣(yang)品(pin)的試驗，其(qi)散熱(re)功率不能超過(guo)試驗箱制(zhi)冷量(liang)，因(yin)制(zhi)冷量(liang)為動(dong)態值(zhi)，其(qi)隨溫(wen)度(du)點(dian)變(bian)化而有(you)所變(bian)化。

創測-高低(di)溫(wen)試驗箱系列適(shi)用(yong)於(yu)對產品(pin)（整機）、零部件、材(cai)料(liao)進(jin)行高溫(wen)、低(di)溫、高低(di)溫(wen)循環及(ji) 溫度(du)篩選(xuan)試驗。本試驗箱可用於(yu)散熱(re)試驗樣(yang)品(pin)和非散熱(re)試驗樣(yang)品(pin)的試驗。對(dui)於(yu)散熱(re)試驗樣(yang)品(pin)的試驗，其(qi)散熱(re)功率不能超過(guo)試驗箱制(zhi)冷量(liang)，因(yin)制(zhi)冷量(liang)為動(dong)態值(zhi)，其(qi)隨溫(wen)度(du)點(dian)變(bian)化而有(you)所變(bian)化。

創測-高低(di)溫(wen)試驗箱系列適(shi)用(yong)於(yu)對產品(pin)（整機）、零部件、材(cai)料(liao)進(jin)行高溫(wen)、低(di)溫、高低(di)溫(wen)循環及(ji) 溫度(du)篩選(xuan)試驗。本試驗箱可用於(yu)散熱(re)試驗樣(yang)品(pin)和非散熱(re)試驗樣(yang)品(pin)的試驗。對(dui)於(yu)散熱(re)試驗樣(yang)品(pin)的試驗，其(qi)散熱(re)功率不能超過(guo)試驗箱制(zhi)冷量(liang)，因(yin)制(zhi)冷量(liang)為動(dong)態值(zhi)，其(qi)隨溫(wen)度(du)點(dian)變(bian)化而有(you)所變(bian)化。

電(dian)池測試試驗箱適(shi)用(yong)於(yu)電(dian)工(gong)、電(dian)子(zi)、儀(yi)器儀(yi)表及(ji)其(qi)它(ta)產(chan)品(pin)、零(ling)部件及(ji)材料(liao)在高低(di)溫(wen)交變(bian)濕(shi)熱環境下(xia)貯存、運(yun)輸(shu)、使用時(shi)的適(shi)應(ying)性試驗; 是(shi)各類電(dian)子(zi)、電(dian)工(gong)、電(dian)器、塑膠等(deng)原材料(liao)和器件(jian)進行耐(nai)寒(han)、耐(nai)熱(re)、耐(nai)濕(shi)、耐幹(gan)性試驗及(ji)品(pin)管(guan)工(gong)程(cheng)的可靠性測試設備; 特(te)別(bie)適(shi)用(yong)於(yu)光纖、LCD、晶(jing)體(ti)、電(dian)感(gan)、PCB、電(dian)池、電(dian)腦(nao)、手機等產(chan)品(pin)的耐高溫(wen)、耐(nai)低溫(wen)、耐潮濕(shi)循環試驗。